XPH-500系列偏光熔点测定仪是地质、矿藏、冶金、石油化学工业、化纤、半导体工业查验等部分和相关高等院校高分子等专业zui常用的专业试验仪器。
XPH-500系列偏光熔点测定仪是地质、矿藏、冶金、石油化学工业、化纤、半导体工业查验等部分和相关高等院校高分子等专业zui常用的专业试验仪器。偏光熔点测定仪可供广阔新老用户作单偏光调查，正交偏光调查，锥光调查以及显微摄影，来调查物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。偏光熔点测定仪选用微电脑检测，有主动P、I、D调理，及含糊手动调理功用，偏光熔点测定仪经过LED显现温度值及设定温度值，外表显现精确、明晰、安稳，对温度操控可设定程序，设有“上、下限主动报警设备，并可随时查看设定的温度数据，是新一代熔点测温、控温设备。显微镜装备有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件。偏光显微镜热台具有可扩展性，能够接计算机和数码相机，对图片进行修改、保存和打印。偏光熔点测定仪是一组具有较齐备功用的新式产品。
偏光熔点测定仪体系是将精细的光学显微镜技能、*的光电转化技能、*的计算机图画处理技能*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。能够在显现屏上很方便地调查实时动态图画，并能将所需求的图片进行修改、保存和打印。
1.显微精细控温仪:在20X物镜下作业时分的温度可到达zui高300℃、温度运转程序全主动操控；温度程序段由用户自行设定，30段温度编程，循环操作，能精确反映设定温度、炉芯温度、样品的实践温度。每段设定开始温度，及在该段内可维持时刻，升温速率可调、精度0.3℃、回忆点读数。
2.显微加热渠道:能够随载物台移动、作业区加热面积大、透光区域可调、作业区温度梯度低于0.1,开始温度室温，作业区加热使用面积至少1X1cm，作区温度梯度不超越0.1oC,透光区域2mm以上，可调,显现温度与实践温度差错不超越0.2,热台能够随载物台移动,熔点测定温度超越100度时，25X的物镜作业间隔太近，简单损坏镜头，请选用长作业间隔的20X、40X物镜
电脑型偏光熔点测定仪（XPH-500E）：1、偏光显微镜2、热台3、适配镜4、摄像器(CCD)5、A/D(图画收集)6、驱动软件7、数据线、计算机(选配)
数码型偏光熔点测定仪（XPH-500D）：1、偏光显微镜2、热台3、数码相机光学转接口4、数码相机
